當(dāng)前位置：首頁(yè) > 技術(shù)文章
光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x是一種基于光學(xué)原理，利用光的反射、折射、干涉等特性，對(duì)物體厚度進(jìn)行高精度測(cè)量的設(shè)備。隨著科技的不斷發(fā)展，光學(xué)厚度測(cè)量技術(shù)在材料科學(xué)、電子制造、涂層檢測(cè)等領(lǐng)域發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。本文將介紹它的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其優(yōu)勢(shì)。一...
膜厚測(cè)量?jī)x是測(cè)量材料薄膜厚度的常用工具。其主要原理是基于物質(zhì)的電磁學(xué)性質(zhì)來(lái)進(jìn)行測(cè)量，可以通過(guò)電磁波的反射或透射特性來(lái)得出膜層的厚度。它廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)領(lǐng)域，包括電子、化工、鋼鐵、醫(yī)藥等，用于檢測(cè)薄膜材料的厚度和均勻性，以及評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。常見(jiàn)的膜厚測(cè)量?jī)x包括X射線熒光、介電常數(shù)計(jì)、光學(xué)膜厚儀、紅外測(cè)量?jī)x等。使用膜厚測(cè)量?jī)x時(shí)需要注意一些事項(xiàng)，下面就介紹一下它的使用方法和注意事項(xiàng)。使用方法：1、接通電源。儀器需要接通電源才能正常工作。在接通電源之前，需要先檢查電源線和...
膜厚測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量薄膜厚度的儀器，其工作原理基于光學(xué)吸收和反射原理。它可以用于測(cè)量各種材料的膜厚，比如金屬涂層、塑料膜、涂料、陶瓷等。下面我們來(lái)詳細(xì)介紹一下膜厚測(cè)量?jī)x的工作原理和特點(diǎn)。它的工作原理：膜厚測(cè)量的原理基于材料吸收和反射光線的原理，從而通過(guò)對(duì)材料所反射、透過(guò)的光線進(jìn)行測(cè)量，來(lái)計(jì)算出材料的膜厚。因此，本儀器是一種利用光學(xué)技術(shù)進(jìn)行測(cè)量的儀器。具體說(shuō)來(lái)，膜厚測(cè)量?jī)x通過(guò)將一束光源射到待測(cè)材料上，并測(cè)量其反射的光線強(qiáng)度，從而計(jì)算出該材料的膜厚。在測(cè)量過(guò)程中，本儀器會(huì)通過(guò)...
電容式位移傳感器是一種非接觸電容式原理的精密測(cè)量?jī)x器，具有一般非接觸式儀器所共有的無(wú)磨擦、無(wú)損磨特點(diǎn)外，還具有信噪比大，靈敏度高，零漂小，頻響寬，非線性小，精度穩(wěn)定性好，抗電磁干擾能力強(qiáng)和使用操作方便等優(yōu)點(diǎn)。它是基于平板電容原理。電容的兩極分別是傳感器和與之相對(duì)的被測(cè)物體。如果有穩(wěn)定交流電通過(guò)傳感器，輸出交流電的電壓會(huì)與傳感器到被測(cè)物體之間的距離成正比關(guān)系，從而可以通過(guò)測(cè)量電壓的變化得到距離信息。電容式位移傳感器的測(cè)量原理特性：采用電容式測(cè)量原理，需要潔凈和干燥的環(huán)境，否則傳...
應(yīng)力測(cè)量?jī)x采用成像式光彈原理，直接測(cè)量光延遲，可以快速給出高分辨率的高精度測(cè)量結(jié)果?？蓪?duì)玻璃、晶體、塑料等透明物體等內(nèi)在殘余應(yīng)力進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試精度可達(dá)設(shè)備功能與原理介紹：量測(cè)主板在制程中，因板彎板翹所造成的變形量，并用以驗(yàn)證是否對(duì)BGA錫點(diǎn)產(chǎn)生相對(duì)影響。使用者可透過(guò)專用的軟體中的最大主應(yīng)力、最小主應(yīng)力、剪應(yīng)力、對(duì)應(yīng)角度，diagonal等，專有計(jì)算功能來(lái)判定所量測(cè)到的訊號(hào)數(shù)據(jù)是否符合國(guó)際規(guī)范，是否合乎標(biāo)準(zhǔn)？以作為服務(wù)器，筆記本計(jì)算器、PDA、及手持電話等3C產(chǎn)品出口質(zhì)量的重要...
光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。它可以埃級(jí)分辨率對(duì)表面進(jìn)行高分辨率測(cè)量。該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測(cè)量，兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(shù)（CSI）。本產(chǎn)品進(jìn)一步擴(kuò)展了這些技術(shù)，它采用SMARTAcquire為新手用戶簡(jiǎn)化了程序設(shè)置，并且采用z-stitching干涉技術(shù)可以對(duì)大臺(tái)階高度進(jìn)行高速測(cè)量。光學(xué)輪廓儀測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量的垂直分辨率與物鏡的數(shù)值孔徑無(wú)關(guān)，因而能夠在大視野范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率測(cè)量。測(cè)量區(qū)域可以通過(guò)將多個(gè)視場(chǎng)拼接為同一個(gè)測(cè)量結(jié)果而進(jìn)一步增加。...